Számos nemzetközi és hazai projekt valósult az évek alatt felhalmozott szakértelem és fejlett eszközpark bázisán. A Labor elsősorban különféle félvezető eszközök, mint különféle tokozott IC-k, diszkrét alkatrészek, teljesítményeelktronikai alaktrészek, napelemek, LED-ek, MEMS-ek és egyéb elektronikai alkatrészek, illetve tokozásuk és összeszerelésük termikus és multidomén karakterizációjára szakosodott, beleértve az ilyen tokozások nem destruktív strukturális vizsgálatát is. Az általános műszereken túl, a minősítési eljárásokhoz a legújabb nemzetközi mérési szabványoknak (pl. JEDEC JESD51-14, JEDEC JESD51-51 és 51-52) megfelelő termikus tranziens tesztelést és radiometriai/fotometriai mérések elvégézést lehetővé tevő berendezések, illetve infrakamerás vizsgálatok állnak rendelkezésre. Ez a környezet lehetőséget teremt olyan szerkezetek vizsgálatára is, mint az organikus fénykibocsájtó eszközök vagy a nanorészecskéket tartalmazó termikus határfelületi (TIM) anyagok.